石墨烯檢測同一標準出台了！

最近消息，國際標準化組織（ISO）已發布標準ISO / TR 19733：2019，「奈米技術 – 石墨烯和相關二維（2D）材料的性質和測量技術矩陣」。

ISO表示，自2004年石墨烯被發現以來，由於其非常優秀的材料特性，它已成為應用研究和器件行業中最具吸引力的材料之一。據人們預計，未來幾年內，石墨烯的應用可以廣泛地取代目前的很多器件開發技術，例如觸摸屏、有機發光二極管（OLED）、太陽能電池、超級電容器和電磁屏蔽等。

該標準提供了一個矩陣，該矩陣將石墨烯和相關二維（2D）材料的關鍵特性與商業上可做到的測量技術聯繫起來。 該矩陣包括用於表征石墨烯和相關2D材料的化學、物理、電學、光學、熱學和機械性質的測量技術。 ISO建議該矩陣可作為開發石墨烯和相關2D材料的表征和測量所需的國際標準的初始指南。

為了更深入地了解材料特性並找到高質量的大規模生產方式，在全球的大學，研究機構和實驗室中正在對石墨烯進行大量的研究，並對相關的二維（2D）材料進行類似的研究。然而，為了將這些革命性材料引入全面商業化，要求重要材料特性的表征和測量技術需要標準化並得到全球認可。在該文獻中，需要標準化的石墨烯和相關2D材料的特定性質的表征和測量技術以矩陣的形式組織。該矩陣可以作為開發石墨烯和相關2D材料的表征和測量所需的國際標準的初始指南。

該標準中的測量和表征手段包括：

AFM 原子力顯微鏡

BET Brunauer，Emmet和Teller方法

EDS 能量色散譜

EPMA 電子探針X射線微量分析

ESR 電子自旋共振

FT-IR 傅立葉變換紅外光譜

ICP-MS 電感耦合等離子體質譜法

KPFM 開爾文探針力顯微鏡

LEEM 低能電子顯微鏡

SEM 掃描電子顯微鏡

SIMS 二次離子質譜

SKPM 掃描開爾文探針顯微鏡

STM 掃描隧道顯微鏡

TEM 透射電子顯微鏡

TGA 熱重分析

UPS 紫外光電子顯微鏡

UV-VIS-NIR SPECTROSCOPY 紫外，可見，近紅外光譜

WDS 波長色散光譜

XRD X射線衍射

XPS X射線光電子能譜

標準下載地址：

https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:tr:19733:ed-1:v1:en

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